Contribution à l'allocation et à la vérification des niveaux d’intégrité de sécurité (SIL) à l'aide des réseaux bayésiens
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Date
2019-03-17
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Un enjeux important auquel fait face les analystes de sécurité industrielle est comment
évaluer les paramètres liés aux scénarios d'accident et aux systèmes relatifs à la sécurité
particulièrement les systèmes instrumenté de sécurité (SIS), tels que la fréquence des
séquences indésirables et la détermination de niveaux d’intégrité de sécurité (SIL) en prenant
toute contrainte existante dans les systèmes réels d’exploitation. L’arbre de défaillance
dynamique (DFT) est convenable à capturer les dépendances fonctionnelles et dynamiques
entre les événements menant à la défaillance du système. Deux modèles de résolution des
DFT sont proposés. Le premier modèle représente une méthodologie complète basée sur la
détermination de la fonction de structure et les coupes / séquences de défaillance. Ce modèle
est capable de quantifier d’une part la probabilité moyenne de défaillance sur demande
(PFDmoy) et la probabilité de défaillance par heure (PFH) des SIS et d’autre part la
fréquence des scénarios d'accident. Le second modèle est le réseau bayésien temporel
discontinu (DTBN) convertissant l’arbre de défaillance dynamique et donne à l’analyste en
plus de l’évaluation des performances des SIS l’opportunité d’implémenter les calculs de
probabilité a postériori, tels que les facteurs d’importance, le diagnostique et la prédiction.