Caractérisation cristallochimique et propriétés optoélectroniques des matériaux chalcopyrites à base de cuivre
| dc.contributor.author | Ouahida Aissaoui | |
| dc.date.accessioned | 2023-03-05T08:56:07Z | |
| dc.date.available | 2023-03-05T08:56:07Z | |
| dc.date.issued | 2009 | |
| dc.description.abstract | Dans ce mémoire de Magister, nous montrons que la combinaison du dépôt par évaporation flash et d'un recuit est appropriée pour la préparation de couches minces de CuGaSe2 et nous procédons à l'étude des propriétés optiques et électriques de ce matériau. Avant d'entreprendre la caractérisation électrique des couches, nous nous sommes d'abord assuré de leurs propriétés physico-chimiques. Pour la caractérisation chimique, nous avons utilisé la spectroscopie en dispersion d'énergie des rayons X (EDS). Cette caractérisation a révélé que la composition volumique des couches est non stœchiométrique, mais que la composition de surface est enrichie en phase binaire Cu2-xSe. Un tel écart de composition était attendu puisque le même phénomène avait été rapporté pour des échantillons massifs de CuGaSe2. La structure cristalline des couches de CuGaSe2 a été étudiée par diffraction des rayons X (DRX). Cette technique a montré que les couches déposées par évaporation flash sur des substrats de verre à température ambiante sont amorphes. Puisque les couches doivent être cristallines pour les fins de l'étude des propriétés physiques, celles-ci ont été recuites. Après traitement thermique, les couches présentent la phase Chalcopyrite et la phase binaire Cu2-xS, elles sont polycristallines et les grains présentent une orientation préférentielle suivant (112). Nous avons profité du recuit pour réaliser une étude de la recristallisation des couches basée sur l'analyse de RX. Cette étude a permis de mettre en évidence l'influence des paramètres: de composition, température de substrats et de recuit sur la recristallisation et sur les propriétés optiques. La caractérisation morphologique des couches a été faite par microscopie électronique à balayage (M.E.B). Les couches déposées sont denses, lisses et ne présentent pas de «trous d'épingle ». Après traitements à haute température, nous observons, par M.E.B, la présence de cristallites à la surface des films. La composition exacte, la structure, ainsi que l'origine de ces cristallites demeurent toutefois inconnues. | |
| dc.identifier.uri | https://dspace.univ-annaba.dz//handle/123456789/2170 | |
| dc.language.iso | fr | |
| dc.title | Caractérisation cristallochimique et propriétés optoélectroniques des matériaux chalcopyrites à base de cuivre | |
| dc.type | Thesis | |
| dspace.entity.type |